Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света
Д.В. Казанцева,
Е.А. Казанцеваб аФизический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация бМосковский технологический университет, просп. Вернадского 78, Москва, 119454, Российская Федерация
Обзор рассматривает успехи, достигнутые в последние годы с помощью безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), работающего в режиме упругого рассеяния света (sSNOM). Рассмотрены принципы работы прибора, технические приемы, искажения и шумы, характерные для методики sSNOM, теоретические модели, используемые в методике. Получили развитие методы детектирования воздействия зондирующего поля на образец под иглой (напр. термическое расширение), появилось заметное число исследований в терагерцовом или СВЧ-диапазоне. Развивается успех в материал-контрастном изображении поверхности, ведутся спектроскопические исследования областей поверхности нанометровых размеров. Рассмотрены достижения в изображении бегущих и стоячих плазмон- и фонон-поляритонных волн над поверхностью твердого тела и над двумерными объектами, в том числе ван-дер-Ваальсовыми материалами и графеном. Обнаружена гибридизация плазмонных поверхностных волн за счет взаимодействия носителей заряда в тонком 2D-объекте с носителями в подложке. Пространственное разрешение прибора (1—20 нм) за последние 5—8 лет практически не изменилось.